Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS (Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie), AES (Auger-Elektronen-Spektrometrie), XPS (Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie).

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Grasserbauer, Manfred, Hans J. Dudek und Maria F. Ebel: Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS (Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie), AES (Auger-Elektronen-Spektrometrie), XPS (Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie).

Springer, Berlin etc, 1986.

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VIII, 300 Seiten mit 154 Abb. und 20 Tab.; 25 cm. Hardcover/Pappeinband.

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Guter Zustand. Bibliotheksexemplar mit Stempeln und Signatur auf Einband. Sonst Seiten sauber. / Good. Ex-library with usual markings. Clean pages.

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Sachgebiete

Grasserbauer, Manfred, Hans J. Dudek und Maria F. Ebel: Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS (Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie), AES (Auger-Elektronen-Spektrometrie), XPS (Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie).

Springer, Berlin etc, 1986.